SN74BCT8374ADWRG4
Numéro de produit du fabricant:

SN74BCT8374ADWRG4

Product Overview

Fabricant:

Texas Instruments

DiGi Electronics Numéro de pièce:

SN74BCT8374ADWRG4-DG

Description:

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Description détaillée:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC

Inventaire:

1671931
Demander un devis
Quantité
Minimum 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) est obligatoire
Nous vous répondrons dans les 24 heures.
SOUMETTRE

SN74BCT8374ADWRG4 Spécifications techniques

Catégorie
Logique, Logique Spéciale
Fabricant
Texas Instruments
Emballage
-
Série
74BCT
État du produit
Obsolete
Type logique
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tension d’alimentation
4.5V ~ 5.5V
Nombre de bits
8
Température de fonctionnement
0°C ~ 70°C
Type de montage
Surface Mount
Emballage / Caisse
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Ensemble d’appareils du fournisseur
24-SOIC
Numéro de produit de base
74BCT8374

Fiche technique & Documents

Fiches techniques

Informations supplémentaires

Forfait standard
2,000

Classification environnementale et d'exportation

Statut RoHS
ROHS3 Compliant
Niveau de sensibilité à l’humidité (MSL)
1 (Unlimited)
Statut REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001

Modèles alternatifs

NUMÉRO DE PIÈCE
SN74BCT8374ADW
FABRICANT
Texas Instruments
QUANTITÉ DISPONIBLE
75
NUMÉRO DE PIÈCE
SN74BCT8374ADW-DG
PRIX UNITAIRE
6.13
TYPE DE SUBSTITUT
Direct
Certification DIGI
Produits Connexes
microchip-technology

SY10EL16VCKC

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY10EL16VZC-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC

microchip-technology

SY100EL16VFZC TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC

texas-instruments

SN74BCT8245ADW

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC