SN74BCT8374ADW
Numéro de produit du fabricant:

SN74BCT8374ADW

Product Overview

Fabricant:

Texas Instruments

DiGi Electronics Numéro de pièce:

SN74BCT8374ADW-DG

Description:

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Description détaillée:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC

Inventaire:

75 Pièces Nouvelles Originales En Stock
1718307
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SOUMETTRE

SN74BCT8374ADW Spécifications techniques

Catégorie
Logique, Logique Spéciale
Fabricant
Texas Instruments
Emballage
Tube
Série
74BCT
État du produit
Active
Type logique
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tension d’alimentation
4.5V ~ 5.5V
Nombre de bits
8
Température de fonctionnement
0°C ~ 70°C
Type de montage
Surface Mount
Emballage / Caisse
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Ensemble d’appareils du fournisseur
24-SOIC
Numéro de produit de base
74BCT8374

Fiche technique & Documents

Fiches techniques

Informations supplémentaires

Forfait standard
25
Autres noms
SN74BCT8374ADWE4-DG
SN74BCT8374ADWE4
-SN74BCT8374ADW-NDR
SN74BCT8374ADWG4
SN74BCT8374ADWG4-DG
296-33849-5
SN74BCT8374ADW-DG

Classification environnementale et d'exportation

Statut RoHS
ROHS3 Compliant
Niveau de sensibilité à l’humidité (MSL)
1 (Unlimited)
Statut REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certification DIGI
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